사용 장비명 : 300kV Field Emission Transmission Electron Microscope
제조사(모델) : FEI (TF30ST)
초점 맞추기 3가지 방법
Intensity : 빔크기 조절
시계방향 → 빔 커질 때 (정방향)
coarse : 크게크게
fine : 작게작게 움질일 때
---------------------------------------
【방법1】시료, 그리드가 연해질 때
Z축을 움직여서
최대한 연하게 보이게 맞춰준다 (정포커스)
홀리그리드 안보이고,
샘플도 안보이는 상태가 맞는 포커스
SEM이랑 좀 다르다...
---------------------------------------
【방법2】빔엣지 뚜렷해질 때
(이 방법을 많이 씀)
---------------------------------------
【방법3】Wobbler 움직임 적을 때
중간에 ㅇ중심이 움직이는게
최소화로 해야한다
Z로 조절해서
조금 움직이는 부분을 찾는다
움직이는 돌아가는 원이 작아져야함
'Equipment > Manuals' 카테고리의 다른 글
| [장비] FEI Tecnai (TF30ST) TEM : Basic Operation(1) - 샘플 홀더 넣기, 빼기 (2) | 2023.05.10 |
|---|---|
| [장비] JEOL 7900F SEM(BSE)으로, ECCI 이미지 찍는 법 (1) | 2023.03.17 |
| [장비] 나노인덴테이션 (Anton paar장비) - 압자 교체하는 법, 클리닝 법 (0) | 2023.03.09 |
| [장비] ECCI 정의, 분석, 시편준비법, 장비 세팅값 (0) | 2023.03.09 |
| [장비] EDS 사용 시 에러대처법 (옥스퍼드 Aztec 이용) [22.12.26 업데이트] (0) | 2022.12.26 |